TEKNOLOJİ SERVİSİ

Pekin Üniversitesi’nde çalışan Prof. Dr. Zhiyong Zhang ve öğrencileri, anne karnındaki bebeklerin Down sendromlu olup olmadığını tespit edebilen, transistör (elektrik sinyallerini yükseltmede kullanılan bir tür devre elemanı) tabanlı bir DNA sensörü geliştirdi.

Araştırmayla ilgili bir makale Nano Letters’ta yayımlandı. İnsanlar 23 çift kromozoma sahiptir. Yaklaşık olarak her 800 bebekten birinde görülen Down sendromu, fazladan bir 21. kromozom olması durumunda ortaya çıkar.

Günümüzde fetüslerin fazladan bir 21. kromozoma sahip olup olmadığını tespit etmek için kullanılan çeşitli yöntemler var. Ancak ya doğru sonuç verme oranları düşük ya anneye ve bebeğe zarar verme potansiyelleri var ya da yavaş sonuç veriyorlar ve pahalılar.

Araştırmacıların geliştirdiği sensörde, 21. kromozoma ait DNA parçalarını yakalayan bir prob (genler veya DNA parçalarını tanımlamak için kullanılan bir tür molekül) var.

DNA parçaları proba bağlandığında, transistör tabanlı sensörden geçen akım miktarında ölçülebilir değişimler oluyor.

Cihaz, 10-16mol/litre gibi çok düşük DNA yoğunluklarında bile büyük oranda doğru sonuçlar veriyor.

Geliştirilen cihazın kullanım alanı sadece Down sendoromu ile sınırlı değil.

Prob moleküllerini değiştirerek proteinler, virüsler, antikorlar ve nükleotidler için de benzer cihazlar üretmek mümkün.